Olympus MX50 Auflichtmikroskop mit Hell- und Dunkelfeld POL und DIC
Das Olympus MX50 Wafer-Inspektionsmikroskop ist ein vielseitiges und leistungsstarkes Auflichtmikroskop für die präzise Untersuchung von Wafern in der Halbleiterindustrie. Es ist mit Hell- und Dunkelfeldbeleuchtung, POL (Polarisationsmikroskopie) und DIC (Differenzialinterferenzkontrast) als Kontrastmethode ausgestattet.
Die Hellfeldbeleuchtung bietet eine hervorragende Darstellung der Waferoberfläche und ermöglicht die Identifizierung von Fehlern, Defekten und Verunreinigungen. Die Dunkelfeldbeleuchtung hingegen hebt Substrukturoberflächen und feine Partikel deutlich hervor, was die Inspektion von Strukturdefekten erleichtert.
Mit dem integrierten DIC kann das Mikroskop transparente Proben mit hoher Detailgenauigkeit darstellen, was die Analyse von transparenten Schichten auf den Wafern ermöglicht.
Zusätzlich verfügt das Olympus MX50 Wafer-Inspektionsmikroskop über einen präzisen Messtaster unter dem Tisch, der eine exakte Positionierung der Wafer ermöglicht. Diese Funktion gewährleistet eine äußerst genaue Platzierung und Ausrichtung der Probe unter dem Mikroskop, was die Inspektionsprozesse weiter optimiert und die Effizienz steigert.
Das Mikroskop hat folgende Ausstattung:
- ergonomischer Trinokular-Fototubus MX-SWETTR
- Okular WHN10X-H/22 (Brille) fokussierbar und Okular WHN10X/22 (Brille)
- Analysator U-AN und Polarisator AX-PO
- DIC-Schieber Nomarski Prisma U-DICR
- elektrischer 5-Fach Objektivrevolver mit folgenden Objektiven:
- MPlanFL N 5x/0.15 BD
- MPlanFL N 10x/0.30 BD
- LMPlanFL N 20x/0.40 BD
- LMPlanFL N 50x/0.50 BD
- großer 32,5cm x 31,5cm X/Y-Kreuztisch von Märzhäuser mit Kupplung
- MX-LSH 12V 100W Lampe
- Heidenhain Messtaster MT12
- Heidenhain 3-Achsen Digitalanzeige
- Schützendes Kontaminationsschild MX-BSH
Das Mikroskop ist in einem guten gebrauchten Zustand, die Objektive sehen äußerlich gebraucht aus, geben jedoch ein exzellentes Bild.
Verschickt wird das Mikroskop auf einer Palette mit der Spedition Schenker.
